【48812】金属四探头电阻率方阻测试仪

时间: 2024-06-02 10:40:02 |   作者: 新闻中心

  用来丈量半导体资料（主要是硅单晶、锗单晶、硅片）电阻率，以及分散层、外延层、ITO导电薄膜、导电橡胶方块电阻的丈量仪器。

  用来丈量半导体资料（主要是硅单晶、锗单晶、硅片）电阻率，以及分散层、外延层、ITO导电薄膜、导电橡胶方块电阻的丈量仪器。

  本仪器的特点是主机装备双数字表，在丈量电阻率（电压表）的一起，另一块数字表（电流表以千分之二的精度）当令监测全程的电流改变，革除了丈量电流/丈量电阻率的转化，更及时掌控丈量电流。主机还供给精度为0.05%的恒流源，使丈量电流高度安稳。本机配有恒流源开关，在丈量某些箔层资料时，在探头压触样品后再接通恒流源可革除探针尖与被测资料之间触摸火花的产生，更好地维护薄膜。仪器装备了本公司的产品：“小迟疑四探针头”，探针迟疑率在0.1～0.2%。确保了仪器丈量电阻率的重复性和准确度。

  主营产品：少子寿仪，红外探伤仪，氧碳含量仪，椭楄仪，类型测试仪，电阻率测试仪，蓝宝石等检测设备